在任何高壓和電噪聲系統(tǒng)中,靜電放電(ESD)抗擾度都是電磁兼容性(EMC)的一個重要方面,是選擇電流隔離器件的關鍵考慮因素。 ESD可以穿透電隔離系統(tǒng)。它并不涉及印刷電路板上的保護裝置。國際標準IEC 61000-4-2規(guī)定了這一系統(tǒng)級抗擾性能。在最終用戶的典型操作應用環(huán)境中,帶電人體通過金屬工具將放電行為引入系統(tǒng)。ESD認證要求高達8000V的接觸放電,因此導致的故障既可以是軟功能型的又可能是物理性損壞。這與ESD人體模型的組件級不同,其中帶電人體的放電事件是在工廠生產(chǎn)和組裝的受控環(huán)境中通過皮膚向組件IC放電。人體模型ESD認證要求的電壓較低,故障類型是硬泄漏或物理損壞。
ESD事件及其魯棒性對于研究和系統(tǒng)設計非常重要。在醫(yī)療設備中,新修訂的醫(yī)療標準IEC 60601-1-2的第四版要求更高的ESD抗擾度。這一變化致力于滿足更多醫(yī)療設備在醫(yī)院外及非受控環(huán)境中使用這一趨勢的要求,這一新趨勢使醫(yī)療設備可能經(jīng)歷更嚴重的電磁噪聲。
在整個電氣隔離系統(tǒng)中,光耦(合器)或隔離器必須能抵抗ESD。最.理.想的性能標準是在測試期間和測試后不會出現(xiàn)性能下降;而最差的性能標準是不可恢復的故障或器件的永.久性損壞,這樣的結(jié)果是不可接受的。
在模擬ESD抗擾度測試的測試設置中,一節(jié)“AA”尺寸電池給用于為光耦或隔離器的輸入通道產(chǎn)生方波脈沖信號的振蕩器或晶體提供電源和浮地。然后,ESD施放槍在光耦的LED陽極或陰極引腳上施加8000V的接觸放電。在光耦絕緣屏障的另一側(cè),使用示波器監(jiān)控輸出通道。 ESD施放槍放電返回電纜連接到光耦輸出側(cè)的電源參考和接地。在此設置中,ESD會穿過光耦的絕緣屏障。觀察光耦的輸出信號和電流消耗,以查驗其功能性能的任何下降。見圖1。
圖1:光耦的ESD抗擾度測試
使用博通(Broadcom)光耦ACNT-H61L,對其施加8000V 的ESD接觸放電,測量顯示在ESD施加期間和之后,其操作功能都正常。ACNT-H61L性能沒有下降。見圖2。
圖2:博通光耦ACNT-H61L DUT
使用德州儀器(TI)的數(shù)字隔離器,對其施加8000V 的ESD接觸放電,測量顯示出功能失效。該數(shù)字隔離器變熱,其電源引腳消耗電流變大。見圖3a和3b。
圖3a:TI隔離器ISO7841 DUT(測試前)
圖3b:TI隔離器ISO7841 DUT(測試后)
對另一款數(shù)字隔離器ACML-7410,對其施加8000V 的ESD接觸放電,測量顯示在ESD施加期間和之后,其操作功能都正常。ACML-7410性能沒有下降。見圖4。
圖4:隔離器ACML-7410 DUT
各電流隔離產(chǎn)品在ESD抗擾度測試中的表現(xiàn)不同。光耦和一些隔離器在測試期間不會出現(xiàn)性能下降,并且在測試后仍能正常工作。其它器件會出現(xiàn)功能失效,甚至可能因器件發(fā)熱嚴重而永.久損壞。在ESD抗擾度的系統(tǒng)設計中選擇真正抗造的隔離產(chǎn)品非常重要。
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