一、概述
電磁兼容EMC可以分為兩大類,一類是我們熟悉的輻射騷擾EMI,另一類是電磁敏感度EMS,指電子設(shè)備受電磁干擾敏感程度,靜電測(cè)試就屬于EMS測(cè)試項(xiàng)中的一項(xiàng)。本文將對(duì)靜電測(cè)試項(xiàng)目與靜電防護(hù)做一個(gè)簡(jiǎn)單的介紹。
二、關(guān)于靜電測(cè)試你知道哪些?
1.靜電測(cè)試的目的
靜電測(cè)試是為了看在實(shí)際使用中產(chǎn)生的靜電是否會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成損壞或?qū)е庐a(chǎn)品性能下降,人體靜電是引起靜電損失和發(fā)生意外爆炸的最主要和最經(jīng)常的因素,因此國(guó)內(nèi)外對(duì)電子產(chǎn)品的防靜電危害都是要求以防人體靜電為主,并建立了人體模型HBM。
2.通用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)中包含有標(biāo)準(zhǔn)適用的范圍,術(shù)語和定義,試驗(yàn)等級(jí),試驗(yàn)發(fā)生器,試驗(yàn)配置,試驗(yàn)程序和試驗(yàn)結(jié)果評(píng)價(jià)等內(nèi)容,不同的產(chǎn)品可以參考已有標(biāo)準(zhǔn)來制定靜電測(cè)試計(jì)劃。
3.放電方式與等級(jí)
直接放電:直接對(duì)受試設(shè)備實(shí)施放電,包括接觸放電和空氣放電;
間接放電:對(duì)受試設(shè)備附近的耦合板實(shí)施放電,以模擬人員對(duì)受試設(shè)備附近的物體的放電。
試驗(yàn)嚴(yán)酷度等級(jí):
實(shí)驗(yàn)結(jié)果分類:
a) 在制造商、委托方或購(gòu)買方規(guī)定的限值內(nèi)性能正常
b) 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但在騷擾停止后能自行恢復(fù),不需要操作者干預(yù);
c) 功能或性能暫時(shí)喪失或降低,但需操作人員干預(yù)才能恢復(fù);
d) 因設(shè)備硬件或軟件損壞,或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。
三、設(shè)計(jì)中需要考慮哪些靜電防護(hù)措施
1.靜電如何干擾設(shè)備
靜電放電波形如下:
由靜電放電波形可知,靜電放電瞬間具有很強(qiáng)的瞬時(shí)電壓與電流,由此會(huì)在空間中激發(fā)瞬態(tài)電磁場(chǎng)。由此可知,靜電主要以兩種方式對(duì)電路產(chǎn)生影響,一種是線束傳導(dǎo)干擾,另一種是空間電磁輻射干擾。線束傳導(dǎo)干擾指的是靜電能量(瞬時(shí)的高電壓與大電流)在線束上傳導(dǎo),對(duì)路徑上的負(fù)載器件造成干擾與損毀(高壓擊穿);空間輻射干擾是指靜電放電瞬間產(chǎn)生的強(qiáng)的電磁場(chǎng)能量,在電路環(huán)路中感應(yīng)出的電壓與電流,對(duì)電路系統(tǒng)造成干擾,影響電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性。若以靜電放電上升時(shí)間Tr=1ns計(jì)算,則靜電電磁場(chǎng)干擾頻寬為:
靜電放電瞬間的過壓會(huì)導(dǎo)致電路器件損壞甚至失效,敏感電路在靜電放電瞬間受到電磁干擾可能造成誤動(dòng)作。
2.靜電防護(hù)
為了應(yīng)對(duì)可能存在的靜電問題,在電路設(shè)計(jì)初期我們應(yīng)該充分考慮對(duì)電路做靜電防護(hù)。通常產(chǎn)品的金屬端口引腳電路設(shè)計(jì)之初需要考慮增加靜電防護(hù)管,常用的靜電防護(hù)器件有:硅基TVS,高分子聚合物ESD和壓敏電阻。
3.都做防護(hù)了為啥還是有問題?
很多時(shí)候我們?cè)陔娐飞弦越?jīng)加了足夠多的靜電防護(hù)了,但還是可能遇到無法通過靜電測(cè)試的問題。這是因?yàn)殪o電干擾具有相當(dāng)程度的復(fù)雜性,一方面靜電干擾沒有固定的傳播路徑,我們所做的防護(hù)都是預(yù)防為主,實(shí)際靜電干擾路徑還需要根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析;另一方面,不同器件的抗干擾能力不同,有些器件過于敏感,常規(guī)的靜電防護(hù)方式已經(jīng)行不通,需要更進(jìn)一步的優(yōu)化,例如屏蔽,引腳濾波以及地隔離等。
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